XRF（X 射線熒光）技術

    XRF（X 射線熒光）是一種用于測定材料中元素組成的無損分析技術。XRF 技術通過分析可樣品由一級 X 射線源激發而散射出的熒光（或二級）X 射線，來確定樣品的化學屬性。樣品中的每一種元素受激發后都會產生一組特定的熒光 X 射線（“指紋”），因此對于材料化學成分定量及定性分析而言，XRF 光譜法是一種非常好的技術。

X 射線熒光過程

1.  用受控 X 射線管發出的高能 X 射線照射固體或液體樣品。

2.  當樣品中的某個原子被能量充足（大于原子的 K 或 L 殼層結合能）的 X 射線撞擊時，就會從原子的一個內軌道殼層中逐出一個電子。

3.  原子恢復穩定性，并使用來自原子更高能量軌道殼層之一的電子內軌道殼層的空缺。

4.  電子通過釋放熒光 X 射線降至較低能量狀態。該 X 射線的能量等于電子兩個量子態之間的特定能量差。這種能量的測量是 XRF 分析的基礎。

XRF 光譜解讀

大多數原子都有幾個電子軌道（例如 K 殼層、L 殼層、M 殼層）。當 X 射線能量導致電子進出這些殼層時，會產生強度不同的 XRF 峰，并且將以圖表形式在光譜中顯示 X 射線強度峰與能量峰的函數關系。峰能量用于識別元素，峰高度/強度通常表示其濃度。

能量色散 X 射線熒光 (EDXRF)

EDXRF 是便攜式 X 射線熒光分析儀中常用的技術。EDXRF 設計用于同時分析多組元素，以便快速測定樣品中的相應元素及其相對濃度，換句話說，即樣品的元素化學成分。

欲了解如何使用這些信息，請參考廢金屬。回收商需要正確識別多種合金等級，在材料轉移點快速分析其化學成分，并向客戶保證產品的質量。金屬合金專為不可互換的特殊功能而設計；成分的微小變化就會導致明顯不同的機械性能。幸運的是，手持 XRF 分析儀可以很容易地區分這些等級。