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摘要:拿到一部有故障的集成電路的設備時,想要找到故障所在必須通過檢測,集成電路行之有效的檢測方法包括:
1.微處理器集成電路的檢測
微處理器集成電路的關鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復位端、XIN晶振信號輸入端、XOUT晶振信號輸出端及其他各線輸入、輸出端。在路測量這些關鍵腳對地的電阻值和電壓值,看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關維修資料中查出)相同。不同型號微處理器的RESET復位電壓也不相同,有的是低電平復位,即在開機瞬間為低電平,復位后維持高電平;有的是高電平復位,即在開關瞬間為高電平,復位后維持低電平。
2.開關電源集成電路的檢測
開關電源集成電路的關鍵腳電壓是電源端(VCC)、激勵脈沖輸出端、電壓檢測輸入端、電流檢測輸入端。測量各引腳對地的電壓值和電阻值,若與正常值相差較大,在其外圍元器件正常的情況下,可以確定是該集成電路已損壞。內(nèi)置大功率開關管的厚膜集成電路,還可通過測量開關管C、B、E極之間的正、反向電阻值,來判斷開關管是否正常。
3.音頻功放集成電路的檢測
檢查音頻功放集成電路時,應先檢測其電源端(正電源端和負電源端)、音頻輸入端、音頻輸出端及反饋端對地的電壓值和電阻值。若測得各引腳的數(shù)據(jù)值與正常值相差較大,其外圍元件與正常,則是該集成電路內(nèi)部損壞。對引起無聲故障的音頻功放集成電路,測量其電源電壓正常時,可用信號干擾法來檢查。測量時,萬用表應置于R×1檔,將紅表筆接地,用黑表筆點觸音頻輸入端,正常時揚聲器中應有較強的“喀喀”聲。
4.運算放大器集成電路的檢測
用萬用表直流電壓檔,測量運算放大器輸出端與負電源端之間的電壓值(在靜態(tài)時電壓值較高)。用手持金屬鑷子依次點觸運算放大器的兩個輸入端(加入干擾信號),若萬用表表針有較大幅度的擺動,則說明該運算放大器完好;若萬用表表針不動,則說明運算放大器已損壞。
5.時基集成電路的檢測
時基集成電路內(nèi)含數(shù)字電路和模擬電路,用萬用表很難直接測出其好壞。測試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電源、電源開關S和8腳IC插座組成。將時基集成電路(例如NE555)插信IC插座后,按下電源開關S,若被測時基集成電路正常,則發(fā)光二極管LED將閃爍發(fā)光;若LED不亮或一直亮,則說明被測時基集成電路性能不良。
1.微處理器集成電路的檢測
微處理器集成電路的關鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復位端、XIN晶振信號輸入端、XOUT晶振信號輸出端及其他各線輸入、輸出端。在路測量這些關鍵腳對地的電阻值和電壓值,看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關維修資料中查出)相同。不同型號微處理器的RESET復位電壓也不相同,有的是低電平復位,即在開機瞬間為低電平,復位后維持高電平;有的是高電平復位,即在開關瞬間為高電平,復位后維持低電平。
2.開關電源集成電路的檢測
開關電源集成電路的關鍵腳電壓是電源端(VCC)、激勵脈沖輸出端、電壓檢測輸入端、電流檢測輸入端。測量各引腳對地的電壓值和電阻值,若與正常值相差較大,在其外圍元器件正常的情況下,可以確定是該集成電路已損壞。內(nèi)置大功率開關管的厚膜集成電路,還可通過測量開關管C、B、E極之間的正、反向電阻值,來判斷開關管是否正常。
3.音頻功放集成電路的檢測
檢查音頻功放集成電路時,應先檢測其電源端(正電源端和負電源端)、音頻輸入端、音頻輸出端及反饋端對地的電壓值和電阻值。若測得各引腳的數(shù)據(jù)值與正常值相差較大,其外圍元件與正常,則是該集成電路內(nèi)部損壞。對引起無聲故障的音頻功放集成電路,測量其電源電壓正常時,可用信號干擾法來檢查。測量時,萬用表應置于R×1檔,將紅表筆接地,用黑表筆點觸音頻輸入端,正常時揚聲器中應有較強的“喀喀”聲。
4.運算放大器集成電路的檢測
用萬用表直流電壓檔,測量運算放大器輸出端與負電源端之間的電壓值(在靜態(tài)時電壓值較高)。用手持金屬鑷子依次點觸運算放大器的兩個輸入端(加入干擾信號),若萬用表表針有較大幅度的擺動,則說明該運算放大器完好;若萬用表表針不動,則說明運算放大器已損壞。
5.時基集成電路的檢測
時基集成電路內(nèi)含數(shù)字電路和模擬電路,用萬用表很難直接測出其好壞。測試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電源、電源開關S和8腳IC插座組成。將時基集成電路(例如NE555)插信IC插座后,按下電源開關S,若被測時基集成電路正常,則發(fā)光二極管LED將閃爍發(fā)光;若LED不亮或一直亮,則說明被測時基集成電路性能不良。
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