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普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、帥先國產化的源表系列產品，集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體。可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，...

半導體器件測試儀IV曲線儀集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體。可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載。其高性能架構還允許...

實施特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、帥先國產化的源表系列產品，集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體。...

普賽斯五合一高精度數(shù)字源表（SMU）在半導體IV特性測試方面擁有豐富的行業(yè)經驗，為半導體分立器件電性能參數(shù)測試提供全面的解決方案，包括二極管、MOS管、BJT、...

SPA-6100型分立器件檢測儀iv+cv測試儀可以幫助用戶根據測試需要，靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨...

普賽斯儀表致力于為高校打造芯片及功率器件測試平臺，提高學生動手實踐能力，利用迅速革新的產品解決方案，幫助學生在實踐中捕獲、測量、分析和模擬芯片、器件世界。晶圓級...

普賽斯分立器件IV曲線測試儀集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下n安級測量、1000...

S型分立器件iv+cv測試儀在一個半機架尺寸的儀器中結合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載等功能，這些測試功能，令S型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特性測試系...

S型iv掃描儀_分立器件I-V測試儀在一個半機架尺寸的儀器中結合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載等功能，這些測試功能，令S型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特...

普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下n安級測量、1000A脈沖大電流輸...

普賽斯S系列、P系列源表標準的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服務與技術支持，普賽斯儀表是手家國產數(shù)字源表生產廠家，產品已經歷3年迭代完善，對標2400...

普賽斯五合一高精度數(shù)字源表（SMU）在半導體IV特性測試方面擁有豐富的行業(yè)經驗，為半導體分立器件電性能參數(shù)測試提供全面的解決方案，包括二極管、MOS管、BJT、...

數(shù)字源表用于光耦特性測試實驗采用一體化設計，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表；貼合集成電路測試相關實驗案例，支撐集成電路相關課程資源和理論教...

賽斯以自主研發(fā)為導向，深耕半導體測試領域，在I-V測試上積累了豐富的經驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、大功率激光...

普賽斯半導體分立器件測試設備采用一體化設計，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表；搭配豐富的測試夾具及配套部件，滿足實際測試需求；測試設備簡單易...

半導體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場效應晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極性晶體管(IGBT)等產品,半導體特性曲...

通常半導體分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成，過程既復雜又耗時，還占用過多測試臺的空間。實施特性參數(shù)分析的較佳工具之一是半導體分立器件測試系統(tǒng)之數(shù)字源表（SM...

S型數(shù)字源表在一個半機架尺寸的儀器中結合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載等功能，這些測試功能，令S型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特性測試系統(tǒng)、曲線追蹤儀和...